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RHK UHV 掃描探針顯微鏡系統

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      美國 RHK Technology 成 立于 1981 年。作為 SPM 工業中的領軍儀器制造商，RHK-Technology 始終保持著鮮明的特色：創新性、可靠性、產品設計的開放性與優秀的客戶支持。憑借著其優異的系統設計、精良的制造工藝、再加上與世界著名科學家的緊密合作，二十多年來 RHK Technology 源源不斷地向全世界科學家們輸送著先進的、高精度的科學分析儀器。   

     R9 -- 全數字式SPM控制系統  

    作為全球頂級的掃描探針顯微鏡儀器制造商，美國RHK Technology公司在過去的20多年里向全世界的科學家們輸送了1000多套高性能的SPM控制系統。最近，RHK公司融合了當前的先進技術，推出了革命性的新一代掃描探針顯微鏡控制平臺R9。它采用了全數字化的硬件系統，噪音極低，性能優異。單獨的R9 SPM控制平臺可以實現所有的STM、AFM和KFM等功能。而“拖放”式IHDLTM軟件系統可以輕松實現對硬件和實驗過程的定義與編輯，其獨特的設計思路和開放性的軟/硬件配置為研究領域的拓展奠定了堅實的基礎，在國內著名高校和研究所已經擁有了10多位客戶。
     
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    超高真空低溫四探針表面分析系統 - UHV LT QuadraProbe

    QuadraProbe四探針表面分析系統保證了樣品和四個STM探針都在10K下長時間穩定 工作，每個探針的分辨率都達到了原子級分辨。在四個探針上方配有高分辨的SEM，用于對探針的粗定位與導航。樣品分析室中還選配有XPS、UPS、ISS、Auger、LEED和SAM等。RHK公司將最先進的R9控制器配置到四探針系統中，用戶可以非常方面的實現對四個探針的獨立控制。
     
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    超高真空變溫變磁場系統 - UHV VT VMF STM/AFM

    VMF系列掃描探針顯微鏡系統將變磁場環境引入到表面科學研究與實驗中，無需制冷裝置，即可實現0~10000Gauss面內連續可變磁場環境，在變磁場環境中，AFM/STM的功能和性能不受任何影響；樣品的變溫范圍從25K~1500K。

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    超高真空變溫掃描探針顯微鏡 - UHV VT STM/AFM

    UHV STM/AFM 系統

      完整的超高真空 AFM/STM 系統，具有掃描速度快；震動隔離采用氣柱或者彈簧方式；具有自動化程度高的特點。

     

    UHV STM/AFM子系統


      超高真空 STM/AFM 首選子系統；樣品變溫范圍從小于 25 K 到大于 1500 K；配有震動隔離系統；原位針尖替換與轉移；易于與其他設備連接，從而構建多腔體 SPM 系統。
    掃描探針顯微鏡表面分析系統
              此系列的產品完美結合了 RHK SPM 與 Specs 生產的表面分析設備。可以進行多種表面分析操作；操作簡單、實驗結果精確。
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