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NeaSNOM 應用案例1 圓偏振光表征金屬結構手性納米天線

更新時間：2019/4/11點擊次數：1389次

NeaSNOM 用圓偏振光表征金屬結構手性納米天線

特殊設計的具備手性性質的天線與超穎表面材料對左與右圓偏振光具有選擇性，這樣的特殊材料可以在使新型光學性質例如巨光學活性與負折射成為可能。

M. Schnell 等人利用 Neaspec 公司的 NeaSNOM 近場光學顯微鏡首次實現了利用圓偏振光研究螺旋形金屬結構納米天線與超穎表面材料中等離基元的研究。納米級別空間分辨率的實驗結果證實了螺旋形結構金屬納米天線等材料可以被設計為是否具備圓偏振光選擇性。如下圖左，左旋與右旋圓偏振光對螺旋形天線實驗測量的近場信號明顯具有不同的強度襯度。如下圖右，超穎表面材料具有（左）/不具有（右）圓偏振光選擇性可以通過設計實現。作者同時利用理論自洽的分析了該實驗結果。

作者指出，該利用圓偏振光的近場光學技術可以用來證實根據理論設計的金屬超穎表面材料等是否確實具有手性性質。該技術也使負折射率等新光學性質的實現具備可能性。

參考文獻：

Schnell, M.; et. al, Real-Space Mapping of the Chiral Near-Field Distributions in Spiral Antennas and Planar Metasurfaces. Nano Letters 2016 , 16, 663-670.

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